스캐닝 프로브 현미경
메이커 에스아이 아이 나노 기술
모델 E-sweep
연식 2006
외부 치수
전시장 엔잔 테크니컬 센터
가격 가격 문의
문의 번호 O20396
기계 사양
측정 모드: AFM/DFM
프로브 스테이션/유닛: SPI4000/E-sweep
사용 스캐너: 20um 스캐너
주사 영역/형상：수 nm~수 um 정도/수+nm 정도의 요철
접안 렌즈 WNH10X/22
대물 렌즈 : 5X, 20X, 50X
전원：AC100V～ 6A 50/60Hz
PC 세트, 터보 분자 펌프 세트, 로터리 펌프, 방진대 부속
첨부파일
※ 아래 이미지를 클릭하면 확대됩니다.
