파장 위상차 및 투과율 측정 장치

메이커

모델 AxoScan

연식

외부 치수W W2000+95 D1200 H795+900

전시장 엔잔 테크니컬 센터

가격 가격 문의

문의 번호 O40395

기계 사양

고속 측정으로 시료의 뮬러 매트릭스를 실측하여 시료의 광학 특성을 도출

가대 부착 광학 실험대:HA-2012-150L(시그마 광기)

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