기계 사양
측정 방식:싱글 빔(1200라인/mm)
파장 범위:325~1050nm
스펙트럼 대역폭: 4nm
파장 정밀도:±1nm
파장 재현성: 0.5nm
측정 범위: 투과율=0~200%T, 흡광율=-0.3~+3A, 농도=0~1999C
광원: 텅스텐 램프
전원:AC100V 50/60Hz
첨부파일
※ 아래 이미지를 클릭하면 확대됩니다.
기계 사양
측정 방식:싱글 빔(1200라인/mm)
파장 범위:325~1050nm
스펙트럼 대역폭: 4nm
파장 정밀도:±1nm
파장 재현성: 0.5nm
측정 범위: 투과율=0~200%T, 흡광율=-0.3~+3A, 농도=0~1999C
광원: 텅스텐 램프
전원:AC100V 50/60Hz
첨부파일
※ 아래 이미지를 클릭하면 확대됩니다.
