半导体（前道工艺） 微细线宽测量装置 - 日立国际 WF-R55UV-H5 产品规格 制造商 日立国际 型号 WF-R55UV-H5 年份 2007 外部尺寸 展厅信息 展示厅 缘山技术中心 价格与咨询 价格 询价 咨询号码 GA1149 库存确认 · 咨询 机器规格3σ≤6nm非接触式高精度线宽测量增距镜线宽测量范围 0.1μm~20μm 自动调光功能工件尺寸≤W140×D140mm H≤20mm依恋 查看附件文件 图片加载中... ※ 点击下方图片可放大。 相关产品推荐 同类别: 半导体（前道工艺） 查看全部 同品牌: 日立国际 查看更多产品 同展厅: 缘山技术中心 查看产品 所有二手设备: 查看所有二手测量设备
